⏱️ Okuma Süresi: 2 dk
📝 Kelime: 467
🕐 Son Güncelleme: 10.11.2026 12:48
📌 Öne Çıkan Başlıklar
- Intel, donanım güvenliğine katkı sunan akademik çalışmaları 2021 yılından bu yana prestijli ödüllerle onurlandırmaktadır.
- Türk bilgisayar bilimcisi Prof. Dr. Onur Mutlu ve beraberindeki Türk araştırmacılar, DRAM bozulma hataları ve satır darbeleme açığı üzerine yürüttükleri iki ayrı projeyle ödüle hak kazandı.
- Ödül alan projelerin arkasındaki isimlerin önemli bir bölümünün Türkiye’deki üniversitelerde ve laboratuvarlarda yetişmiş genç araştırmacılardan oluşması dikkat çekti.
Teknoloji dünyasının dev isimlerinden Intel, donanım güvenliği alanını kalıcı olarak etkileyen ve geleceğe yön veren akademik çalışmaları ödüllendirmeye devam ediyor. 2021’den bu yana düzenlenen organizasyonda bu yıl Türk araştırmacıların imzasını taşıyan projeler büyük bir başarıya imza atarak iki ayrı ödüle layık görüldü. Küresel çapta yankı uyandıran bu gelişmeler, Türkiye’deki akademik yetkinliğin uluslararası alanda ne denli güçlü olduğunu bir kez daha gözler önüne serdi.
Kalıcı Etki Ödülü Türk Bilim İnsanının İmzasıyla Geldi
Intel’in en az 10 yıl önce yayımlanmış ve donanım güvenliği alanına kalıcı etkiler bırakmış çalışmalara verdiği “Kalıcı Etki Ödülü” (Test of Time Award), bu yıl hafızalarda dönüm noktası yaratan bir araştırmaya gitti. Satır darbeleme (RowHammer) kavramını ilk kez ortaya koyan 2014 tarihli “Flipping Bits in Memory Without Accessing Them” başlıklı çalışma, jüri tarafından ödüle layık görüldü.
Yoongu Kim, Ross Daly, Jeremie Kim, Chris Fallin, Ji Hye Lee, Donghyuk Lee, Chris Wilkerson, Konrad Lai ve Türk bilgisayar bilimcisi Prof. Dr. Onur Mutlu‘nun ortak imzasını taşıyan bu çığır açıcı araştırma, dünyadaki üç büyük bellek üreticisinin modüllerinin yüzde 80’inden fazlasında satır darbeleme açığını kanıtlamıştı. DRAM bozulma hatalarını ilk kez net bir şekilde gözler önüne süren bu çalışma, donanım güvenliği standartlarının baştan aşağı yeniden yazılmasında kritik bir rol oynadı.
Genç Türk Araştırmacılardan Güncel Yayın Başarısı
Öte yandan, son iki yılda yayımlanan en başarılı çalışmalara takdim edilen “Güncel Yayın Ödülü” (Recent Publication Award) de yine Türk bilim insanlarının yön verdiği bir ekibin oldu. Oğuzhan Canpolat, Giray Yağlıkçı, Geraldo F. Oliveira, Ataberk Olgun, Nisa Bostancı, İsmail Emir Yüksel, Haocong Luo, Prof. Dr. Oğuz Ergin ve Prof. Dr. Onur Mutlu’nun imzasını taşıyan “Chronus: Understanding and Securing the Cutting-Edge Industry Solutions to DRAM Read Disturbance” başlıklı bildiri ödüle değer görüldü.
Satır darbeleme açıklarına karşı sanayinin geliştirdiği en son koruma mekanizmalarını 11 yıl sonra inceleyerek daha da güçlendiren Chronus bildirisinin ödülünü, törende yazarlar adına Giray Yağlıkçı teslim aldı. Özellikle uluslararası alanda ses getiren bu tür teknolojik gelişmeler, ülkemizdeki mühendislik vizyonunun gelişimini de kanıtlar nitelikte.
Yerli Laboratuvarların Başarı Zinciri
Chronus’un dokuz yazarından yedisinin Türk olması ve bunların beşinin TOBB ETÜ’de Prof. Dr. Oğuz Ergin’in öğrencisi olarak yetişmesi dikkat çeken bir diğer ayrıntı oldu. Projenin başyazarı Oğuzhan Canpolat, Ergin’in yönetimindeki Kasırga Mikroişlemciler Laboratuvarı’nda yetişti. Kasırga takımlarının daha önce TEKNOFEST Çip Tasarım Yarışması’nda üst üste 4 yıl boyunca toplam 5 birincilik elde etmesi, başarıların tesadüf olmadığını gösterdi. Türkiye’deki genç yeteneklerin küresel arenada elde ettiği bu tür akademik ve bilimsel adımlar, geleceğin teknolojilerine yön verme potansiyeli taşıyor.
